Show simple item record

Повышение адекватности испытаний микроэлектронных СЖАТ на устойчивость к электростатическому разряду

dc.contributor.authorКомнатный, Д. В.
dc.date.accessioned2021-10-25T07:56:30Z
dc.date.available2021-10-25T07:56:30Z
dc.date.issued2003
dc.identifier.otherУДК 621.396:621.391.82
dc.identifier.urihttp://elib.bsut.by:8080/xmlui/handle/123456789/6049
dc.language.isootherru
dc.publisherБелГУТru
dc.subjectСЖАТru
dc.subjectЭлектроникаru
dc.titleПовышение адекватности испытаний микроэлектронных СЖАТ на устойчивость к электростатическому разрядуru
dc.typeArticleru


Files in this item

Thumbnail
Name:
37-39.pdf
Size:
458.2Kb
Format:
PDF
View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record