Show simple item record

Вероятностный метод определения устойчивости микроэлектронных СЖАТ к электростатистическому разряду

dc.contributor.authorБочков, К. А.
dc.contributor.authorКомнатный, Д. В.
dc.date.accessioned2025-11-17T12:45:26Z
dc.date.available2025-11-17T12:45:26Z
dc.date.issued2002
dc.identifier.otherУДК 621.396:621.391.82
dc.identifier.urihttp://elib.bsut.by:8080/xmlui/handle/123456789/13742
dc.language.isootherru
dc.publisherБелГУТru
dc.subjectМикроэлектронные СЖАТru
dc.titleВероятностный метод определения устойчивости микроэлектронных СЖАТ к электростатистическому разрядуru
dc.typeArticleru


Files in this item

Thumbnail
Name:
161-162.pdf
Size:
472.8Kb
Format:
PDF
View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record