Show simple item record

Определение устойчивости микроэлектронных СЖАТ к электростатическому разряду вероятностным методом

dc.contributor.authorБочков, К. А.
dc.contributor.authorКомнатный, Д. В.
dc.date.accessioned2022-03-11T08:14:48Z
dc.date.available2022-03-11T08:14:48Z
dc.date.issued2002
dc.identifier.otherУДК 621.396:621.391.82
dc.identifier.urihttp://elib.bsut.by:8080/xmlui/handle/123456789/6721
dc.language.isootherru
dc.publisherБелГУТru
dc.subjectСЖАТru
dc.titleОпределение устойчивости микроэлектронных СЖАТ к электростатическому разряду вероятностным методомru
dc.typeArticleru


Files in this item

Thumbnail
Name:
39-41.pdf
Size:
157.3Kb
Format:
PDF
View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record