Определение устойчивости микроэлектронных СЖАТ к электростатическому разряду вероятностным методом

dc.contributor.author	Бочков, К. А.
dc.contributor.author	Комнатный, Д. В.
dc.date.accessioned	2022-03-11T08:14:48Z
dc.date.available	2022-03-11T08:14:48Z
dc.date.issued	2002
dc.identifier.other	УДК 621.396:621.391.82
dc.identifier.uri	http://elib.bsut.by:8080/xmlui/handle/123456789/6721
dc.language.iso	other	ru
dc.publisher	БелГУТ	ru
dc.subject	СЖАТ	ru
dc.title	Определение устойчивости микроэлектронных СЖАТ к электростатическому разряду вероятностным методом	ru
dc.type	Article	ru