Повышение адекватности испытаний микроэлектронных СЖАТ на устойчивость к электростатическому разряду

dc.contributor.author	Комнатный, Д. В.
dc.date.accessioned	2021-10-25T07:56:30Z
dc.date.available	2021-10-25T07:56:30Z
dc.date.issued	2003
dc.identifier.other	УДК 621.396:621.391.82
dc.identifier.uri	http://elib.bsut.by:8080/xmlui/handle/123456789/6049
dc.language.iso	other	ru
dc.publisher	БелГУТ	ru
dc.subject	СЖАТ	ru
dc.subject	Электроника	ru
dc.title	Повышение адекватности испытаний микроэлектронных СЖАТ на устойчивость к электростатическому разряду	ru
dc.type	Article	ru