Показать сокращенную информацию

dc.contributor.authorАксютик, А. А.
dc.contributor.authorБочков, К. А.
dc.contributor.authorХарлап, С. Н.
dc.date.accessioned2021-05-21T07:55:08Z
dc.date.available2021-05-21T07:55:08Z
dc.date.issued2001
dc.identifier.otherУДК 656.25
dc.identifier.urihttp://elib.bsut.by:8080/xmlui/handle/123456789/5391
dc.language.isootherru
dc.publisherБелГУТru
dc.subjectЭМСru
dc.subjectТехнологические процессыru
dc.subjectМикроэлектронные системы управленияru
dc.titleМетоды проведения испытаний на безопасность функционирования и ЭМС микроэлектронных систем управления ответственными технологическими процессамиru
dc.typeArticleru


Файлы в этом документе

Thumbnail

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию