Показать сокращенную информацию

dc.contributor.authorКатков, В. Л.
dc.date.accessioned2020-03-16T11:54:30Z
dc.date.available2020-03-16T11:54:30Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.otherУДК 656.25
dc.identifier.urihttp://elib.bsut.by:8080/xmlui/handle/123456789/2320
dc.language.isootherru
dc.publisherБелГУТru
dc.subjectЖелезнодорожная автоматикаru
dc.subjectМикроэлектронные системыru
dc.subjectАвтоматизация анализаru
dc.titleПодход к автоматизации анализа влияния отказов на функциональную безопасность микроэлектронных систем железнодорожной автоматикиru
dc.typeArticleru


Файлы в этом документе

Thumbnail

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию